Новизна кристалоквазіхімічного методу полягає в тому, що антиструктуру
Така суперпозиція дає можливість ефективно аналізувати як самі процеси нестехіометрії, так і легування, утворення твердих розчинів, тощо. Розглянемо їх детальніше.
4.1. Кристалоквазіхімічний аналіз:
Нестехіометрія. При надлишку кадмію антиструктура стехіометричного сфалериту
Тоді при суперпозиції отриманого кластеру із квазіхімічною формулою стехіометричного складу отримаємо:
Тутa - мольні долі. Стає очевидним, що надлишок кадмію приводить до утворення донорних рівнів і обумовлює електронну провідність матеріалу.
При надлишку халькогену відповідно:
|
Таким чином, надлишок телуру обумовлює утворення акцепторних рівнів і додаткових дірок, тобто, матеріалу р-типу.
Одержані результати визначення типу провідності для процесів нестехіометрії узгоджується із експериментальними приведеними в роботі [16].
4.2. Процеси легування
4.3.
а) легування киснем. При суперпозиції антиструктури з киснем отримаємо такий кристалоквазіхімічний кластер:
Суперпозиція матриці з даним кристалоквазіхімічним кластером приведе до наступного:
Отже, легування (адсорбція) телуриду кадмію киснем приводить до заміщення вакансії халькогена киснем з утворенням акцепторних центрів , що і обумовлює діркову провідність.
б) легування хлором. При суперпозиції антиструктури з хлором отримаємо такий кристалоквазіхімічний кластерза механізмом заміщення:
|
У випадку вкорінення хлору одержимо такий кластер:
Так як
Отже, легування телуриду кадмію хлором приводить до заміщення вакансій телуру хлором і часткового проникнення хлору в ОП підгратки аніону з утворенням акцепторних центрів і діркової провідності. Одержані кристалоквазіхімічні результати не підтверджують донорну дію хлору в CdTe наведену в роботі [23]. Це пояснюється можливим утворенням акцепторних комплексів
в) легування індієм. З врахуванням донорної дії In в CdTe [23], кристалоквазіхімічний аналіз досліджували за механізмом заміщення атомів індію вакансій кадмію в основній матриці (механізм заміщення) та вкорінення індію у міжвузля, тобто в ТП або ОП порожнини (механізм вкорінення).
Механізм заміщення. Суперпозиція індію із антиструктурою основної матриці утворює кластер:
Враховуючи електронну конфігурацію 4d105s25p1(In) і його зарядовий стан (In+1, In+3, 2In+2«In+3 + In+1) отримаємо:
При суперпозиції основної матриці з кластером (4.11) одержимо наступні вирази. Кластер (4.12') для спрощення запису опускаємо:
|
Таким чином, утворений матеріал (5.13) характеризується електронною провідністю, яка обумовлена вакансіями в аніонній підгратці.
За механізмом вкорінення легуючий кластер має вигляд:
При суперпозиції одержимо:
Механізм вкорінення індію (4.15) як і заміщення (4.13) підтверджує його донорну дію. При цьому припускається, що вкорінений індій може знаходитися в зарядовому стані (In+3), займаючи ТП чи ОП основної матриці.
5. Утворення твердих розчинів
Розглянемо криствлоквазіхімічний механізм утворення твердого розчину CdTe-ZnTe з ізовалентним заміщенням. Легуючий кластер має вигляд:
При накладані матеріалу р-типу на кластер (5.1) одержимо:
З виразу (5.2) видно, що цинк буде займати тетраедричні вакансії металу внаслідок чого зменшиться кількість вакансій металу і концентрація основних носіїв.
У випадку утворення твердого розчину CdTe-K2Teз гетеровалентним заміщенням одержимо кластер:
Накладання основної матриці на кластер (5.3) приведе до наступного:
Отже, утворений твердий розчин характеризується вакансіями в аніонній підгратці і n-типом провідності матеріалу.
6. Обговорення результатів
Згідно одержаних кристалоквазіхімічних рівнянь, що описують процеси нестехіометрії (4.2), (4.4) встановлено, що при відхилені від стехіометрії на боці кадмію одержуємо матеріал n-типу, а на боці телуру – p-типу.
Кисень згідно одержаного виразу (4.6) проявляє в телуриді кадмію акцепторні властивості з утворенням матеріалу p-типу.
Легування кристалів телуриду кадмію хлором дає можливість одержати матеріал p-типу із заміщенням тетраедричних вакансій телуру і вкоріненням хлору в ОП підгратки аніону або ТП підгратки металу. Механізм вкорінення хлору підтверджується співставленням іоного радіусу хлору (табл.8) з радіусом ОП підгратки аніону для в’юрциту (riо= 1,85 Å).
Таблиця8
Електронна конфігурація та радіуси кадмію, індію, хлору, телуру [10]