, | (2.4) |
, | (2.5) |
де Еd, Ea- енергії іонізації донорних і акцепторних точкових дефектів, які близькі до нуля (0,01 еВ). Густини станів в дозволених зонах Nc i Nv можна розрахувати за формулами :
, | (2.6) |
. | (2.7) |
Тут
.де K=12, mc(0) - маса електрона в зоні провідності, mv(0) - маса дірки в валентній зоні, m0 - маса вільного електрона, Eg - ширина забороненої зони [4]:
. | (2.8) |
Константа рівноваги власної провідності дорівнює [3]:
. | (2.9) |
Значення КF,
знайшли, апроксимуючи експериментальні залежності концентрації носіїв струму від тиску сірки (рис.1) виразом (3). Одержані значення знайдених констант наведено у таблиці. Використовуючи знайдені константи, побудували залежності концентрації дефектів (міжвузлових атомів свинцю вакансій свинцю ) та концентрації носіїв струму n(p) від температури відпалу та парціального тиску пари сірки, які зображено на рис.2.2-5.2Рис.2.3. Залежність розрахованих значень концентрації носіїв струму (1–n(p)), міжвузлових атомів свинцю (2–
) та вакансій свинцю (3- ) в кристалах PbS від температури відпалу ( Па).2.3. Обговорення результатів
При відпалі кристалів PbS у парі сірки змінюється як концентрація, так і вид дефектів (рис.2–5). Так, зокрема, результати теретичного аналізу вказують на те, що збільшення парціального тиску сірки (рис. 2.1), як і зменшення температури відпалу (рис. 3.5), зумовлюють
Рис. 2.4. Залежність концентрації носіїв струму PbS від парціального тиску сірки (суцільна лінія- розрахунок згідно (3.3) з використанням знайдених значень констант рівноваги, точки – експеримент) при температурі відпалу Т, К: 1-1000, 2-1100, 3-1200.
Рис.2.5. Залежність розрахованих згідно (3.3) значень концентрації носіїв струму PbS з використанням знайдених значень констант рівноваги від температури відпалу при парціальному тиску сірки
, Па: 1 - 10-4, 2 - 10-2, 3 - 1.топологічно ідентичні зміни. Для випадку збільшення парціального тиску сірки спостерігається зменшення концентрації електронів, конверсія провідності з n–на p–тип (термодинамічний n–p–перехід) і подальше зростання концентрації дірок. А у випадку підвищення температури відпалу спочатку відбувається спадання концентрації дірок, аж до моменту настання n–p–переходу, а потім зростання концентрації електронів (рис. 3,5). При цьому в області малих тисків концентрація визначається міжвузловими атомами свинцю (n =
), а в області високих тисків – концентрацією вакансій свинцю (p = ) (рис.2.2).3.Розрахунок констант рівноваги квазіхімічних реакцій утворення
власних атомних дефектів у халькогенідах свинцю на основі
експериментальних даних про границі області гомогенності
3.1 Квазіхімічне моделювання
Реакції та константи рівноваги К=К0 exp (–DH/kT) утворення переважаючих атомних дефектів у халькогенідах свинцю PbS
№ п/п | Рівняння | Константа рівноваги |
1 | ||
2 | ||
3 | ||
4 | ||
5 | ||
6 |
Припускалося, що в халькогенідах свинцю переважаючим є дефектоутворення у катіоній підгратці за механізмом Френкеля. Згідно [6], процес дефектоутворення в PbS можна описати системою квазіхімічних реакцій (таблиця 3.1). Тут реакція (1) описує утворення пари Френкеля, (2)-(3) – іонізацію утворених дефектів, (4) – збудження власної провідності. Реакція (5) описує проникнення атомів халькогену з парової фази у кристал з утворенням нейтральної
металічної вакансії, а (6) – рівняння повної електронейтральності.Границі області гомогенності халькогенідів свинцю для надлишку атомів свинцю і халькогену можна розрахувати за формулами[11]:
(3.1) |
де К – константи відповідних квазіхімічних реакцій (див. таблицю 3.1).
Вирази (3.1) дозволяють розрахувати границі області гомогенності якщо відомі константи Ka, Kb, Ki, КF,
. Навпаки, якщо границі області гомогенності відомі з експерименту, то можна визначити константи рівноваги реакцій утворення власних атомних дефектів. Проте, ця задача є досить складною. Для її спрощення константи Ka, Kb, Ki розраховували теоретично, використовуючи зонну теорію невироджених напівпровідників. Константи рівноваги реакцій іонізації дефектів визначали за формулами:(3.2) | |
(3.3) |
Значення параметрів, які використовувались при розрахунках констант Ka, Kb, Ki [1,2,15]
Сполука | Носії струму | (300 К) | Eg , еВ | ||
низькі температури | високі темпера-тури | ||||
PbS | n | 1,3 | 0,160 | 0,275+4,5×10–4Т | 0,45 |
p | 1,4 | 0,150 |
де Еd, Ea- енергії іонізації донорних і акцепторних точкових дефектів, які брали рівними 0,01 еВ. Густини станів в дозволених зонах Nc i Nv можна розрахувати за формулами :
Nc = 2(2p kT/h2)3/2 | (3.4) |
Nv = 2(2p kT/h2)3/2 | (3.5) |
де
, -ефективна маса електрона в зоні провідності і дірки в валентній зоні відповідно, m0 - маса вільного електрона.