Максимальный шум токораспределения при
5.2. Шумовая схемная модель ПТШ
Анализ составляющих шума субмикронного ПТШ:
1. Малошумящий режим связан с напряжением на затворе, близком к потенциалу отсечки тока стока. В этом режиме носители под затвором движутся по подложке, преодолев потенциальный барьер канал-подложка и потеряв часть энергии. Это приводит к уменьшению вероятности междолинного рассеяния. Шум, связанный с разогревом носителей является преобладающим в субмикронных ПТШ.
2. Шум токораспределения при
3. Шум, наведенный на затворе в малошумящем режиме также минимален, так как
4. Шум канала также минимален, так как
| |
Температура электронов (вдоль канала) может быть найдена по формуле:
где
| |
5.3. Минимальный коэффициент шума
Минимальный коэффициент шума связан с обеспечением всех необходимых факторов, которые приводят к минимальному значению коэффициента шума. (Выбор электрического режима и условия согласования). Методика расчета минимального коэффициента шума может быть сведена к следующим этапам, учитывая, что выбор оптимальных значений питающих напряжений
1. Пересчет локальных шумовых источников ко входу и выходу четырехполюсника, используя принцип суперпозиции для линейных цепей, при этом суммарные токи на входе и на выходе:
2. Расчет волновых шумовых параметров (
3. В предположении большого усиления
где
4. Оптимальный коэффициент отражения по входу с учетом согласования входа четырехполюсника определяется:
5. При допущении об отсутствии влияния нагрузки на шумы на входе, что практически всегда выполняется, то условие согласования на выходе четырехполюсника – это условие передачи максимальной мощности (комплексно-сопряженное согласование). При этом:
5.4. Расчет коэффициента усиления по мощности и коэффициента устойчивости
По рассчитанным при условии минимального шума
т.е. это такие нагрузки, которые необходимо обеспечить на входе и на выходе четырехполюсника. При стандартном сопротивлении генератора и нагрузки для получения на входе и на выходе четырехполюсника
При известных
где
Коэффициент устойчивости:
где
5.5. Анализ неоднородностей субмикронных полевых структур
Это актуально, так как при субмикронных размерах неоднородности могут быть сравнимы с рамерами структуры.
В реальных структурах (активных и пассивных) имеют место неоднородности, возникающие вследствие технологических погрешностей их изготовления. Их учесть можно, например, представляя транзистор в виде некоторой дискретной структуры вдоль третьей координаты (ширины затвора). Тогда каждая из секций будет описываться своим набором физико-топологических параметров и соответственно, Y-матрицей. Т.е. структура представляется в виде параллельно-соединенных четырехполюсников:
Параметры (геометрические, физические) в каждой секции могут задаваться либо детерминированной функцией, либо случайным образом (по соответствующему закону распределения – нормальному, равномерному, т.д. по методу Монте-Карло).
После получения результирующей Y-матрицы высокочастотные параметры рассчитываются известными методами.
5.6. Уравнения для учета распределенных эффектов в полевых структурах
| |
здесь
Первое уравнение характеризует падение напряжения на участке затворной линии