φ1 = 1,0; φ2 = 1,0; φ3 = 0,75; φ4 = 0,5;
φ5 = 0,31; φ6 = 0,187; φ7 = 0,11
Таблица нормативов комплексных показателей технологичности
электронно-вычислительной техники:
Для условий мелкосерийного производства изделие обладает высокой технологичностью.
Так же существуют следующие коэффициенты, не вошедшие в вышеприведенную формулу
1) Коэффициент повторяемости электрорадиоэлементов в изделии:
Кпэ = ( 1 + Nт ) / Nэрэ,
где
Nт = 12 – число типоразмеров ЭРЭ в изделии,
Nэрэ = 39 – число ЭРЭ в изделии.
Кпэ = ( 1 + 12 ) / 39 = 0.33 т.е. хорошая повторяемость.
2) Коэффициент применяемости печатного монтажа:
Кп = Nкпг / Nкп,
где
Nкпг – число контактных площадок, паянных групповым методом,
Nкп – общее число контактных площадок.
Т.к. Nкпг= Nкп, то Кп = 1 (серийное производство)
3) Коэффициент повторяемости ИС:
Кповт.ис = 1 – Nт.ис / Nис,
где
Nт.ис = 5 – число типоразмеров ИС в изделии,
Nис = 24 – число ИС в изделии.
Кповт.ис = 1 – 5 / 24 = 0.79 (высокая повторяемость)
4) Коэффициент установочных размеров:
Кур = 1 – Nур / Nэрэ,
где
Nэрэ = 13 – число ЭРЭ в изделии,
Nур = 4 – число различных установочных размеров.
Кур = 1 – 4 / 13 = 0.61 (малая разница установочных размеров)
Исходя из найденных выше коэффициентов, видно, что конструкция технологична.
8. Тепловой расчет
Тепловые режимы радиоэлектронной аппаратуры в значительной степени определяют ее надежность. Микро миниатюризация радиоэлектронной аппаратуры привела к значительному увеличению удельных тепловых нагрузок. С позиции теплофизики радиоэлектронный аппарат представляет собой систему тел, которые сложным образом распределены в пространстве и являются источниками и стоками энергии.
Прежде чем приступить к выбору системы охлаждения проанализируем условия эксплуатации проектируемого изделия. Электронный контроллер должен работать в помещениях с нормальными климатическими условиями. Роль корпуса осуществляет пласмассовая конструкция с зазорами. Перенос тепла осуществляется в основном за счет конвекции. Общую мощность, выделяемую контроллером можно подсчитать, просуммировав выделяемые мощности каждого компонента.
Таблица потребления микросхем:
Микросхема | Эле-ты | Кол-во | Рср ,мВт | Тип Корпуса | H, мм | А, мм | В, Мм |
K537РУ17 | D1,D2,D2 | 3 | 5 | 4119.28-6.02 | 5.5 | 12 | 37 |
К555ИЕ10 | D4,D5,D6,D7,D16 | 5 | 156 | 238.16-2 | 5 | 7.5 | 21.5 |
К555ТМ2 | D8,D17 | 2 | 19 | 201.14-8 | 5 | 7.5 | 19.5 |
К555ИД7 | D9,D23 | 2 | 50 | 238.16-2 | 5 | 7.5 | 21.5 |
К555ЛН1 | D10,D13,D14 | 3 | 33 | 201.14-1 | 5 | 7.5 | 19.5 |
К555ЛИ1 | D11,D12,D15 | 3 | 44 | 201.14-1 | 5 | 7.5 | 19.5 |
К555ИР13 | D18 | 1 | 120 | 405.24-2 | 5.5 | 12 | 30 |
К555ИР22 | D19,D20,D21,D22 | 4 | 125 | 4153.20-1.01 | 5 | 7.5 | 25 |
8 типов | 23 | 1.784 |
Общая мощность, выделяемая устройством
.Общее количество микросхем
.Исходные данные для расчета
1. Геометрические параметры корпуса
.2. Геометрические параметры платы
.3. Мощность, выделяемая источниками тепла
.4. Средняя мощность одного источника
5. Коэффициент теплопроводности стеклотекстолита основания печатной платы
.6. Давление окружающей среды
.7. Давление воздуха внутри блока
.8. Температура эксплуатации
.Исходными данными для расчета служат значения следующих параметров:
- базовая температура - То = 293 К,
- мощность выделяющаяся в микросхеме - Qэi , Вт -
Qэ6 =0.156 Qэ7 =0.156 Qэ8 = 0.156 Qэ9 = 0.019 Qэ10 = 0.019
Qэ11 = 0.05 Qэ12 = 0.05 Qэ13 =0.022 Qэ14 =0.033 Qэ15 =0.033
Qэ16 =0.033 Qэ17 =0.044 Qэ18 =0.044 Qэ19 =0.044 Qэ20 =0.12
Qэ21 =0.125 Qэ22 =0.125 Qэ23 =0.125
- размеры корпуса блока без учета теплоотводящих ребер -
Lкх = 0.12 м, Lкy = 0.14 м, Lкz = 0,02 м,
- общая площадь внешней поверхности блока - Sк = 0.044 м2,
- площадь основания микросхемы - Sэоi , 10-6 м2
Sэ1 =444 Sэ2 =444 Sэ3 =444 Sэ4 =161,25 Sэ5 =161,25
Sэ6 =161,25 Sэ7 =161,25 Sэ8 =161,25 Sэ9 =146,25 Sэ10 =146,25
Sэ11 =161,5 Sэ12 =161,25 Sэ13 =146,25 Sэ14 =146,25 Sэ15=146,25
Sэ16=146,25 Sэ17=146,25 Sэ18=146,25 Sэ19=360 Sэ20= 187,5
Sэ21=187,5 Sэ22=187,5 Sэ23=187,5
- суммарная площадь поверхности микросхемы - Sэi, 10-6 м2
Sэo1 =1784 Sэo2 =1784 Sэo3 = 1784 Sэo4 =612,5 Sэo5 =612,5
Sэo6 =612,5 Sэo7 =612,5 Sэo8 =612,5 Sэo9 =562,5 Sэo10 =562,5
Sэo11 =612,5 Sэo12 =612,5 Sэo13 =562,5 Sэo14 =562,5 Sэo15 =562,5
Sэo16 =562,5 Sэo17 =562,5 Sэo18 =562,5 Sэo19 =1082 Sэo20 =700
Sэo21 =700 Sэo22 =700 Sэo23 =700
- размеры печатной платы - lx = 0.11 м, ly = 0.13 м,
- коэффициент перфорации корпуса блока - Кп = 1,
- толщина печатной платы - dп = 0.0015мм,
- зазор между основанием микросхемы и печатной платой - dз = 0.001 м,
- коэффициент теплопроводности диэлектрического основания платы - стеклотекстолита - l1 = 0.372 Вт/м*К,
- коэффициент теплопроводности материала, заполняющего зазор между микросхемой и печатной платой - воздух - ls = 0.02442 Вт/м*К,
- объем печатной платы - Vп = 10*10-6 м3,
- шаг установки микросхем на печатной плате- tx = 0.025м, ty = 0.017м,
- давление окружающей среды и давление внутри блока - Н1 = Н2 = 0.1 МПа,
- мощность выделяющаяся в блоке - Qб = 1,784 Вт.
Определяют удельную мощность корпуса блока - qк -
qк = Qб / Sк = 44.54 Вт/м2,
Определяют перегрев корпуса блока - Qк -
Qк = Qко * Ккп * Кн1,
где Qко - перегрев корпуса герметичного блока при давлении окружающей среды 0.1 Мпа
Qко = 0.1472 * qк - 0.2962 * 10-3 * qк2 + 0.3127 * 10-6 * qк3,
Ккп -коэффициент учитывающий перфорацию корпуса блока, при Ккп = 1,
Кн1 - коэффициент учитывающий давление окружающей cреды, при H1 = 1 МПа, Кн1 = 1.2,
Получим - Qк = 5.28 К.
Определяют удельную мощность нагретой зоны блока - qз -
Qб
qз = = 0.066 Вт/ м22*(Lкх*Lку+(1/Lкх+1/Lку)*lк*lу*lz)
Определяют среднеобъемный перегрев нагретой зоны блока - Qз -
Qз = Qк + ( Qзо - Qко ) * Ккп * Кн2,
где Qзо - среднеобъемный перегрев нагретой зоны блока в герметичном корпусе при давлении воздуха внутри блока 0.1 Мпа,
Qзо = 0.139 * qз - 0.1223 * 10-3 * qз2 + 0.0698 * 10-6 * qз3,
Кн2 - коэффициент учитывающий давление воздуха внутри блока, при Н2 = 0.1 МПа, Кн2 = 1.
Получим - Qз = 2.97 К.
Определяют среднеобемный перегрев воздуха внутри блока - Qв -
Qв = ( Qз + Qк ) / 2 = 4.12 К.
Определяют тепловую проводимость от микросхемы к корпусу блока через воздух внутри блока - бк -
где Ка - коэффициент, учитывающий теплоотдачу от корпуса микросхемы, Вт/м2*К,
Ка = 23.54 / ( 4.317 + lg ( Sэi ) ),
Получим тепловую проводимость для микросхем, Вт*м2-
бк1 =0.01941 бк2 =0.01941 бк3 =0.01941 бк4 =0.00946 бк5 =0.00946
бк6 =0.00937 бк7 =0.00946 бк8 =0.00946 бк9 =0.00903 бк10 =0.00903
бк11=0.00937 бк12=0.00946 бк13=0.00903 бк14 =0.00903 бк15=0.00903
бк16=0.00903 бк17=0.00903 бк18=0.00903 бк19=0.01230 бк20= 0.01019
бк20=0.01019 бк20=0.01019 бк20=0.01019
Определяют параметр - m -
Определяют эквивалентный радиус микросхемы - Ri -
R= Sэ/п
Для каждой микросхемы получим, м -
R1 = 0.01189 R2 = 0.01189 R3 = 0.01189 R4 = 0.00716 R5 = 0.00716
R6 = 0.00725 R7 = 0.00716 R8 = 0.00716 R9 = 0.00682 R10 = 0.00682
R11 = 0.00725 R12 = 0.00716 R13 = 0.00682 R14 = 0.00682 R15 = 0.00682
R16 = 0.00682 R17 = 0.00682 R18 = 0.00682 R19 = 0.01070 R20 = 0.00772
R21 = 0.00772 R22 = 0.00772 R23 = 0.00772
Qэс = К * Qэ / ( a + 1 / ( c + 1 / ( b + d ) ) ) ,
где K - эмпирический коэффициент. Рекомендуется принимать
К = 1.14 для микросхем, центр которых отстоит от торцов печатной платы на расстоянии меньше 3R, К = 1 для микросхем, центр которых отстоит от торцов на расстоянии больше 3R.
a, b, c, d - обозначения, принятые для упрощенной записи формулы - ________
a = ( ( Ка - 4 ) * Ö Н2 / 105 + 4 ) * ( Sэ - Sэо ) ,
________
b = ( 4.5 * Ö Н2 / 105 + 4 ) * p * R*R,
с = dз / ( lз * p * R * R ),
d = 2* p * R * l1 * dп * m * ( К1 (m*R) / К0 (m*R) ),
где К0 (m*R) и К1 (m*R) - модифицированные функции Бесселя второго рода нулевого и первого порядка.
Проведя расчеты, получим для каждой микросхемы - Qэс , К -
Qэс1 = 0.19272 Qэс2 = 0.19272 Qэс3 = 0.19272 Qэс4 = 12.81684 Qэс5 =12.81684
Qэс6 = 12.84973 Qэс7 = 12.81684 Qэс8 = 12.81684 Qэс9 =1.64644 Qэс10 =1.64644
Qэс11 = 4.11850 Qэс12 = 4.10796 Qэс13 =2.85961 Qэс14 =2.85961 Qэс15 =2.85961
Qэс16 = 38.12818 Qэс17 = 38.12818 Qэс18 = 38.12818 Qэс19 = 6.85716 Qэс20 = 9.40903
Qэс21 = 9.40903 Qэс22 = 9.40903 Qэс23 = 9.40903
Определяют предельный радиус взаимного теплового влияния- Rпр-