6. Коэффициент усиления по току М может достигать величин 103 - 107. Для увеличения М увеличивают постоянную времени t (но при этом возрастает
13
инерционность и уменьшается диапазон частот модуляции сигнала), либо уменьшают время пролета (уменьшая длину фоточувствительного слоя, увеличивая рабочее напряжение).
7. Кратность изменения сопротивления - отношение темнового сопротивления к наименьшему световому сопротивлению на линейном участке световой характеристики (см.п.5.2, рис.10,б).
Величины
= 102 - 104.8. Длинноволновая граница фотопроводимости lо определяется шириной запрещенной зоны DW, либо энергией активации примесей DWпр используемых материалов.
lо =
[мкм].Наиболее распространенные материалы фоторезисторов имеют величины:
- сернистый кадмий (CdS) l0 = 0,49 мкм (DW = 2,53 эВ);
- сернистый свинец (PвS) ¾ 3,36 мкм (DW = 0,37 эВ);
- антимонид индия (JлSв, 77 К) ¾ 7,3 мкм (DW = 0,17 эВ);
- германий, легированный медью (Ge:Cu, 15 К) ¾ 25 мкм
9. Рабочая длина волны - lmax - соответствует максимуму спектральной характеристики фоторезистора (см. п.5.2, рис.9), l max на 20 - 50% < lо.
10. Температурный коэффициент фототока
aт =
· 100 = -(0,1 - 0,01) % / градС ростом температуры фототок уменьшается в основном из-за уменьшения времени жизни t носителей и, соответственно, уменьшения
коэффициента усиления М.
11. Пороговая (обнаружительная) чувствительность Фmin - минимальный световой поток, вызывающий появление фототока, равного темновому току.
Определяется в полосе Df = 1 Гц, при соотношении сигнал/шум, равном 1, приводится к площади светочувствительного слоя 1 см2. Имеет, например, у фоторезистора из CdS величину 2 · 10-15[Вт/см Гц1/2].
5.2. Характеристики фоторезисторов
Важными характеристиками фоторезисторов являются вольтамперная, световая, спектральная, частотная, переходная, шумовая.
1. Вольтамперная характеристика фоторезистора - это зависимость тока фоторезистора от величины приложенного напряжения при фиксированном
14
значении воздействующего светового потока Ф. Обычно рассматривают семейство ВАХ при различных величинах Ф (рис.7).
Темновая ВАХ фоторезистора (ОД) линейна, для наглядности на рис.7 величина темнового тока увеличена в 103 раз. Типовая ВАХ (например, при
Ф1 = 0,1 лм) в общем случае состоит из 3 участков:
- АВ - рабочий, линейный участок;
- ОА - обычно нелинейный, квадратичный из-за заметного при малых токах и напряжениях действия потенциальных барьеров между полупроводниковым слоем и выводами, между отдельными зернами фоточувствительного слоя;
- ВС - загиб ВАХ при больших токах обусловлен разогревом фоточувствительного слоя, ростом концентрации носителей, скорости рекомбинации и, соответственно, уменьшением времени жизни носителей и коэффициента усиления М.
2. Световая характеристика фоторезистора J(Ф)½U - это зависимость его тока от величины светового потока при постоянном напряжении питания (рис.8). Другие названия световой характеристики - интегральная, энергетическая, люкс-амперная.
15
Рабочей является линейная часть световой характеристики (участок АВ), на которой ток фоторезистора пропорционален световому потоку и неискаженно воспроизводит сигнал.
При малых интенсивностях светового потока световая характеристика (участок ДА) нелинейна из-за
- наличия темнового тока (при Ф=0),
- непропорционального роста фототока при слабом освещении из-за захвата фотоносителей центрами прилипания, рекомбинации, ловушками, создаваемыми дефектами кристаллической решетки, атомами посторонних примесей.
При больших световых потоках (участок ВС) происходит загиб световой характеристики из-за увеличения скорости рекомбинации носителей, уменьшение времени жизни t и коэффициента усиления М.
3. Спектральная характеристика - это зависимость относительной (т.е. нормированной по максимуму) чувствительности (тока) фоторезистора от длины волны излучения (при фиксированных напряжении на фоторезисторе и силе светового потока) (рис.9).
16
При l > l0 энергии кванта недостаточно для генерации свободных носителей заряда (hv < DW).
На участке l0 ¸ l max рост тока обусловлен ростом плотности разрешенных состояний в валентной зоне и зоне проводимости при удалении от их границ и, соответственно, возможностью поглощения потока квантов света.
Спад на участке ВА при уменьшении l обусловлен
- уменьшением числа квантов света при постоянной силе светового потока j и, соответственно,уменьшением числа фотогенерированных носителей заряда;
- поглощением света в приповерхностном слое все меньшей толщины и, соответственно, возрастанием потерь от рекомбинации, уменьшением эффективного времени жизни фотогенерированных носителей заряда.
5.3. Характеристики и параметры оптронов
Оптрон, или оптоэлектронная пара - это конструктивно единый элемент, состоящий из светоизлучателя, оптической среды, электрического изолятора и фотоприемника. Светоизлучателем могут быть светодиод, полупроводниковый лазер, электролюминесцентный излучатель. Фотоприемники также разнообразны - фоторезисторы, фотодиоды, фототранзисторы, фототиристоры.
В лабораторной работе будет исследоваться оптрон ОЭП-16, состоящий из арсенидгаллиевого светодиода и фоторезистора.
Основные характеристики оптрона - входная и передаточная (рис.10). Входная характеристика - это зависимость тока светодиода от напряжения на
17
нем, имеет экспоненциальный вид, смещена в область напряжений более 1 В (так как Gа Аs имеет ширину запрещенной зоны 1,41 эВ).
Передаточная характеристика - это зависимость сопротивления фоторезистора (управляемого параметра оптрона) от величины входного (управляющего) тока.
Основные параметры оптронов
1. Входное напряжение (при токе 10 мА) ¾ 1,1 ¸ 2 В.
2. Коэффициент передачи тока (при токе 10 мА) ¾ 0,5 ¸ 5%
18
6. СХЕМА ЛАБОРАТОРНОЙ УСТАНОВКИ
19
приборов), цифровые миллиамперметр В7-20 (цмА) и вольтметр Ф203 (цV) и колодки с распаянными варистором СН1-2-2, терморезистором М2К2 и оптоэлектронной парой ОЭП-16 (рис.11).
7. ЛАБОРАТОРНОЕ ЗАДАНИЕ
7.1. Исследование характеристик варистора
7.1.1. Выписать параметры исследуемого варистора СН1-2-2 (Прил. П1).
7.1.2. Собрать схему для снятия прямой ветви вольтамперной характеристики варистора при Т = 200С. Варистор впаян между выводами Б и Э колодки (рис.11,а). Установить все регуляторы источников напряжения стенда в исходное нулевое положение. Установить диапазоны измерительных приборов стенда в положения "25 В" и "10 мА", а цифровые измерительные приборы в положения "1 мА" (В7-20) и "10 В" (Ф203).
Включить стенд и измерительные приборы. Установить регулятор термостата на Т= 700С.
7.1.3. Провести измерения для снятия прямой ветви ВАХ варистора в соответствии с табл.1. Записать показания цифровых приборов.
Таблица 1
Т,ОС | U,В | 0 | 1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 8 | 10 | 12 | 13 | 14 | 15 |
20 | Jпр, мА | ||||||||||||
Jобр, мА | |||||||||||||
70 | Jпр, мА | ||||||||||||
Jобр, мА |
7.1.4. Включить варистор в обратном направлении (рис.11,а, пунктирные соединения).
Провести измерения соответственно табл.1.
7.1.5. Поместить варистор в термостат. Выдержать его в нем не менее 5 мин для разогрева до 700С. Повторить измерения согласно п.п.7.1.3 и 7.1.4.
7.2. Исследование характеристик терморезистора
7.2.1. Выписать параметры исследуемого терморезистора М2К2 (Прил.П2).
20
7.2.2. Собрать схему для снятия ВАХ терморезистора (включаемого между выводами "Б" и "К" стенда, см. рис.11,б) при температуре 200С. Исходные состояния регуляторов стенда и диапазона измерительных приборов установить согласно п.7.1.2.
Регулятор термостата стенда установить в положение "500С".