где DIn и DIo - относительное превышение или отставание i-го параметра у новой системы по сравнению с рассматриваемой лучшей моделью; DPin и DPio - абсолютная величина превышения или отставания i-го параметра у новой системы по сравнению с рассматриваемой лучшей моделью; DPiн и DPiл - численное значение i-го параметра у новой (Piл) модели этой системы (приборы). Вывод о превосходстве или отставании делается на основе сопоставления важнейших параметров, расположенных в порядке их значимости.
Превосходство или отставание создаваемого изделия при такой оценке не характеризуется каким-либо одним числом.
2.3. Оценка технического уровня изделия с помощью одного числа
В некоторых случаях, когда к оценке ТУ системы удается привлечь несколько экспертов она осуществляется по методу весовых коэффициентов с помощью одного числа:
; (2.3)где ТУ - обобщающая количественная характеристика технического уровня изделия; Pi- численное значение i-го параметра этого изделия; Bi - весовой коэффициент, характеризующий относительную значимость i-го параметра изделия, С – количество показателей качества.
Эксперт оценивает важность i-го показателя технического уровня (качества) по шкале относительной значимости в диапазоне от 1 до 10.
Коэффициент весомости каждого параметра системы рассчитывается по формуле
(2.4)где r - количество специалистов - экспертов; Xim - оценка важности i-го параметра m-го эксперта по относительной шкале значимости; С - количество показателей качества.
Численное значение i-го параметра этой системы может быть приведено к безразмерному виду при помощи формул:
(2.5)где Pci - безразмерный показатель качества (БПК) для тех параметров, при увеличении абсолютных значений которых возрастает обобщающий показатель технического уровня; Pni - БПК для параметров, увеличение абсолютных значений которых ведет к уменьшению обобщающего показателя ТУ; Pкр , Pпр - показатели ТУ изделий-аналогов, сравниваемых с разрабатываемым; Pi - показатель разрабатываемого изделия (системы).
; (2.6)где ТУ - обобщающий показатель технического уровня изделия.
3. Методы расчета себестоимости и оптовой цены изделия.
Определив экспертным путем степень важности основных параметров системы и зная их величину по сравниваемым вариантам, можно установить ценностный множитель KS
; (3.1)где Sб - себестоимость единицы базовой системы; Аj - степень важности j-го параметра, оцененная в баллах; Xбj - величина j-го параметра, оцененная в баллах; n - количество параметров.
Зная аналогичные параметры нового изделия и величину ценностного множителя KS базового изделия, можно укрупнено оценить себестоимость новой системы Sn:
(3.2)Применяется в случае наличия прямой пропорциональной зависимости между себестоимостью и технико-эксплуатационными параметрами
; (3.3)где Sн, Sб - полная себестоимость изготовления, соответственно, новой и базовой системы (изделия); Xн, Xб - количественное значение главного технико-эксплуатационного параметра.
Прямым способом по соответствующим нормам расхода и нормативам стоимости рассчитывается одна из статей калькуляции себестоимости (например, затраты на покупные комплектующие изделия, полуфабрикаты и на основные материалы Sм), а затем полная себестоимость (цена) S:
; (3.4)где Кsм - доля затрат в себестоимости (цене) аналогичных, ранее освоенных изделий, %.
Примерная структура прямых производственных затрат для серийного производства радиоэлектронных систем приведена в табл.3.1.
Таблица 3.1.
Тип систем | Удельный вес затрат, % | ||
Основные материалы | Комплектующие изделия | Основная заработная плата | |
Устройство управления Спец. вычислительное устройство Процессор | 10 15 10 | 70 30 45 | 20 55 45 |
При отсутствии необходимой статистики, долю затрат в структуре себестоимости (цене) можно определить по корреляционной зависимости:
- для систем (приборов), построенных с использованием микросхем.
; (3.5)3.4. Метод регрессионного анализа
Основан на определении и использовании эмпирических формул зависимости себестоимости (цены) от изменения параметров изделия.
Регрессионные модели затрат могут классифицироваться по ряду признаков: по числу учитываемых параметров, влияющих на уровень себестоимости, - однофакторные (парные) и множественные регрессионные зависимости; по составу факторов - зависимости себестоимости от факторов, общих только для одной группы функционально-однородных изделий, и зависимости, учитывающие факторы, общие для многих групп.
Так, например, уравнение связи, соответствующее максимальным значениям парных коэффициентов корреляции по группе полупроводниковых приборов, имеет вид
(3.6)где S - рассчетное значение себестоимости прибора, руб.шт.; Тшт- трудоемкость изготовления, ч/шт., р - процент выхода годных изделий, N - программа выпуска, тыс.шт./год, Т- год выпуска.
Недостатком данного метода является то, что часто приходится разрабатывать подобные зависимости самостоятельно. Для конкретных задач необходимо использовать графическое представление зависимости и однофакторные, регрессионные зависимости, где в качестве независимой переменной в модели применять обобщенный показатель качества Сi.
(3.7)3.5. Метод нормативной калькуляции или ценообразование по методу “издержки плюс”
Сводный расчет себестоимости и оптовой (отпускной) цены изделия по данному методу приведен в табл. 3.2.
Налог на добавленную стоимость рассчитывается по нормативу (в %) к цене Z за вычетом стоимости материалов и покупных изделий Sм + Sпи, т.е. норматив равен
.Упрощенный вариант расчета полной себестоимости:
(3.8)где
- полная себестоимость системы (прибора); - стоимость материалов и покупных комплектующих изделий, руб./шт.; - основная производственная зарплата, руб./шт.; - дополнительная зарплата (10-20%); - отчисления в фонды, % (прил., табл. 5); - цеховые расходы, %; - общезаводские расходы, %; - внепроизводственные расходы, %; - расходы на развитие науки (1.5%).3.6. Метод расчета себестоимости изделия с учетом выхода годных изделий
Коэффициентом (процентом) выхода годных изделий Pi называется отношение количества годных изделий к количеству изделий, запущенных вы обработку на i-ю операцию Nзi
(3.9)Общий коэффициент выхода годных изделий Po определяется произведением пооперационных коэффициентов: