3. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-2100. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,19 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 50 до 1200000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
4. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-2100F. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,19 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 50 до 1200000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
5. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-2200FS. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,19 нм (0,07 нм с включенным корректором аберраций) и диапазоном увеличений от 50 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
6. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-ARM200F. Ускоряющее напряжение 200 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,08 нм (СПЭМ) / 0,11 нм (ПЭМ) и диапазоном увеличений от 50 до 2000000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
7. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-3100F. Ускоряющее напряжение 300 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,17 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 60 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
8. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-3200FS. Ускоряющее напряжение 300 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,17 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 100 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 0,7 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
9. Просвечивающий электронный микроскоп, модель JEM-ARM1300. Ускоряющее напряжение 1300 кВ, режим просвечивающей электронной микроскопии с разрешением 0,1 нм (по паспорту) и диапазоном увеличений от 200 до 1500000, режим дифракции электронов, режим измерения спектров ХПЭЭ с разрешением 1,5 эВ, режим элементного картирования на основе СХПЭЭ, цифровая система регистрации изображений на основе ПЗС-камеры.
Приложение 2
(справочное)
Список использованных сокращений
| ВЭЖХ | Высокоэффективная жидкостная хроматография |
| ВЭП | Высокая электронная плотность |
| ИСП-МС | Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой |
| ИФА | Иммуноферментный анализ |
| МР | Методические рекомендации |
| НЭП | Низкая электронная плотность |
| ОТ | Обратная транскрипция |
| ПЦР | Полимеразная цепная реакция |
| ПЭМ | Просвечивающая электронная микроскопия |
| СОП | Стандартные операционные процедуры |
| СХПЭЭ | Спектр характеристических потерь энергии электронов |
| ЭФ в ПААГ | Электрофорез в полиакриламидном геле |