«МАТИ»-РГТУ
им. К. Э. Циолковского
Кафедра: "Xxxxxxxxxxxxxxxxxxxx
xxxxxxxxxxxxxxxx"
студент ХxxxxxxxX. X.группа XX-X-XX |
дата сдачи |
оценка |
г. Москва 2001 год
Оглавление:
1. Исходные данные | 3 |
2. Анализ исходных данных | 3 |
3. Расчет физических параметров p- и n- областей | 3 |
а) эффективные плотности состояний для зоны проводимости и валентной зоны | 3 |
б) собственная концентрация | 3 |
в) положение уровня Ферми | 3 |
г) концентрации основных и неосновных носителей заряда | 4 |
д) удельные электропроводности p- и n- областей | 4 |
е) коэффициенты диффузий электронов и дырок | 4 |
ж) диффузионные длины электронов и дырок | 4 |
4. Расчет параметров p-nперехода | 4 |
a) величина равновесного потенциального барьера | 4 |
б) контактная разность потенциалов | 4 |
в) ширина ОПЗ | 5 |
г) барьерная ёмкость при нулевом смещении | 5 |
д) тепловой обратный ток перехода | 5 |
е) график ВФХ | 5 |
ж) график ВАХ | 6, 7 |
5. Вывод | 7 |
6. Литература | 8 |
1. Исходные данные | |||||||
1) материал полупроводника – GaAs2) тип p-nпереход – резкий и несимметричный3) тепловой обратный ток ( ) – 0,1мкА4) барьерная ёмкость ( ) – 1пФ5) площадь поперечного сечения ( S) – 1мм2 6) физические свойства полупроводника | |||||||
Ширина запрещенной зоны, эВ | Подвижность при 300К, м2/В×с | Эффективная масса | Время жизни носителей заряда, с | Относительная диэлектрическая проницаемость | |||
электронов | Дырок | электрона mn/me | дырки mp/me | ||||
1,42-8 | 0,85-8 | 0,04-8 | 0,067-8 | 0,082-8 | 10-8 | 13,1-8 | |
2. Анализ исходных данных | |||||||
1. Материал легирующих примесей: а) S (сера) элемент VIA группы (не Me) б) Pb (свинец) элемент IVA группы (Me) 2. Концентрации легирующих примесей: Nа=1017м -3, Nд=1019м -33. Температура (T) постоянна и равна 300К (вся примесь уже ионизирована)4. – ширина запрещенной зоны5. , – подвижность электронов и дырок 6. , – эффективная масса электрона и дырки7. – время жизни носителей заряда | |||||||
8. – относительная диэлектрическая проницаемость | |||||||
3. Расчет физических параметров p- и n- областей | |||||||
а) эффективные плотности состояний для зоны проводимости и валентной зоны б) собственная концентрация в) положение уровня Ферми (рис. 1) (рис. 2) |
|
(рис. 1) | (рис. 2) |
г) концентрации основных и неосновных носителей заряда |