Применение физики в криминалистических исследованиях (стр. 6 из 6)

3.2.2. Методы исследования внутренней структуры

По уровню выявления деталей внутренней структуры объектов (например, изделий из металлов и сплавов, керамики, лакокрасочных покрытий и т.п.) различают две группы методов.

1) Методы выявления микродефектов (пустоты, неравномерности распределения плотности вещества). При этом используются: рентгеновская, ультразвуковая, магнитная дефектоскопия, методы просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Эти же методы применяются для установления дефектов технологии (например, при исследовании тонких пленок и покрытий), особенностей надмолекулярной структуры полимерных материалов и т.п.

2) Методы исследования структуры на молекулярном и атомарном уровне: молекулярная спектроскопия и рентгеноструктурный анализ. Среди последних различают: рентгеноструктурный анализ поликристаллов и монокристаллов, который позволяет исследовать качественный и количественный состав индивидуальных компонентов (химических соединений) вещества, определить кристаллическую структуру монокристаллов: рентгеновский фазовый анализ, который позволяет исследовать наряду с фазовым составом также текстуру материалов, эффекты малоуглового рассеивания полимерных материалов. Рентгеновский структурный анализ монокристаллов открывает возможности для определения пространственного расположения атомов в индивидуальных химических соединениях, межатомных расстояний, углов между химическими связями. Благодаря этому удается идентифицировать вещества по информации на атомном уровне.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Итак, вещественные доказательства, исследуемые судебными экспертами, обладают многими физическими и химическими свойствами, существенными для решения криминалистических задач. Физические константы, результаты анализа химических свойств часто дополняют друг друга. Для установления этих свойств применяются методы и приборы, сущность и принцип которых основаны на законах физики. Поэтому эффективное применение данных методов и приборов требует знания этих законов, а некоторые экспертные специальности – высшего физического, физико-химического, химико-физического образования.

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

1.Васильев А.Н., Яблоков Н.П. Предмет, система и теоретические основы

криминалистики. М., 1984.

2.Митричев В.С. Криминалистическая экспертиза материалов, веществ и изделий. Саратов, 1980.

3.Криминалистика социалистических стран. Под редакцией проф. В.Я. Колдина, М., 1986.

4.Шляхов А.Р. Судебная экспертиза: организация и проведение. М.,1979.

5.Корухов Ю. Г. Исследование объектов криминалистической экспертизы с помощью некоторых оптических приборов. – Методика криминалистической экспертизы, № 2,М.,1961.

6.Спектральный анализ чистых веществ. Л.,1971

7.Физический энциклопедический словарь. Гл. ред. Прохоров А.М., М.,1984.

Ход лучей через выпуклую линзу

а б

а – параллельный пучок света, проходя через линзу, собирается в фокусе F;

б – расходящийся из фокуса F пучок света, проходя через линзу, образует параллельный пучок.

рис. 1

Два примера возникновения изображения при использовании выпуклой линзы

а

б

а– точка P’ – действительное обратное (перевернутое) увеличенное изображение точки P;

б – точка P’ – мнимое прямое увеличенное изображение точки P.

рис.2

Принципиальная схема работы оптического микроскопа

Рис.3

Оптический микроскоп

Рис.4

Принципиальная схема электронного микроскопа

Рис.5

Диаграмма электронных переходов между различными энергетическими

уровнями при поглощении и излучении света

рис.6

Блок-схема эмиссионного спектрометра

Рис.7

Принципиальная схема призменного монохроматора

Рис.8