Критерии исключения выбросов ПКГ при статистической обработке результатов испытаний РЭСИ (стр. 2 из 2)

Рис.1 Полигон распределения параметра X

Рис. 2 Гистограмма рас- Рис. 3 Кумулятивная (итерг-пределения праметра Xральная) кривая распределения параметра X

Координат соединяют прямыми линиями. Для замыкания полученной кривой крайние ординаты соединяют с такими близлежащими серединами интервалов, в которых частоты равны нулю. Гистограмма распределения (рис. 2) служит обычно для отображения интервального изменения ПКГ.

Для получения гистограммы на интервалах, отложенных по оси абсцисс, строят прямоугольники, высоты которых пропорциональны частотам интервалов. Кумулятивная кривая (рис. 3) применяется для изображения экспериментальных значений ПКГ с накопленными частотами в прямоугольной системе координат.

Часто кумуляту называют интегральной кривой Для ее строения составляют упорядоченный дискретный ряд значений ПКГ с накопленными частотами. Накоплен частота каждого значения параметра получается суммированием всех частот предшествующих его значений Огива строится аналогично кумуляте с той лишь разницей, что на ось абсцисс наносят накопленные частоты а на ось ординат – значения параметра.

Если лист бумаги, на котором изображена кумулята, повернуть на 90° и посмотреть на него с обратной стороны на свет, то можно увидеть огиву.

Для наглядности иногда удобно наносить значения ПКГ непосредственно на поле корреляции (рис. 4). Для построения поля корреляции по оси абсцисс откладывают начальные значения исследуемого параметра изделий (например, измеренные перед постановкой на испытание значения статического коэффициента усиления по току однотипных транзисторов), а по оси ординат значения этого параметра для тех же самых изделий (тех же транзисторов) через некоторый интервал времени t их испытания под нагрузкой. Тогда значение параметра каждого изделия (транзистора) до и после испытания на срок службы обозначают точкой в системе рассматриваемых координат. Следовательно, вся партия изделий (транзисторов), прошедших испытание под нагрузкой, отображается разбросанными по координатному полю точками. Совокупность этих точек и образует поле корреляции.

Рис. 4. Поле корреляции

Если значения контролируемых параметров после испытания изделий не изменились, то все точки располагаются на прямой, проведенной из начала координат под углом 45; если же значения параметров уменьшились по сравнению с измеренными значениями перед постановкой изделий на испытание, то точки располагаются ниже указанной прямой; если увеличились, - то выше ее.

Проведя на графике лучи соответствующие, например 20- и 50 %-ному изменению параметра за время испытаний, нетрудно подсчитать число точек (изделий), попавших в сектор между двумя лучами: с изменением параметра до 20 % и от 20 до 50 % от первоначального значения.

ЛИТЕРАТУРА

1. Глудкин О.П. Методы и устройства испытания РЭС и ЭВС. – М.: Высш. школа., 2001 – 335 с 2001

2. Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование/ под ред. А.И.Коробова М.: Радио и связь, 2002 – 272 с.,2002

3. Млицкий В.Д., Беглария В.Х., Дубицкий Л.Г. Испытание аппаратуры и средства измерений на воздействие внешних факторов. М.: Машиностроение, 2003 – 567 с,2003

4. Национальная система сертификации Республики Беларусь. Мн.: Госстандарт, 2007

5. Федоров В., Сергеев Н., Кондрашин А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств – Техносфера, 2005. – 504с. ,2005